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M+M Shanghai 2019: 專利測量方法,用于低溫裸金屬的光學溫度檢測

 

 

 

 

專利測量方法,用于低溫裸金屬的光學溫度檢測

 

由于低熱輻射,在<200℃的溫度下發亮金屬的光學溫度測量對于紅外溫度計來說是困難的測量任務。市售的低溫高溫計不能提供可靠的測量值,因為物體輻射很大程度上受到環境條件的影響。

 

到目前為止,特殊的交變光高溫計用于此測量任務。然而,這些裝置需要在硫化鉛傳感器前面的電機驅動的遮光盤用于信號評估。這限制了設備的使用壽命,并允許在最高環境溫度為50°C下運行。另外,測量方法不適用于快速移動的物體。

 

基于目前維護和無磨損直射光技術已開發用于檢測光學溫度測量KELLER紅外線溫度解作為創新的領導者之一的最小紅外信號的一種新穎的測量方法。本發明的核心是結合新型光電傳感器和極低空間信號處理的高速透鏡。功能強大的處理器可計算線性化和環境溫度補償的數學算法,以最小的噪聲提供高分辨率輸出。即使在以很短的測量時間顯著最壞的情況下,較低的溫度(75℃以上)和測量對象的低發射率特性提供的專利信號處理穩定的讀數。

 

所有3種設備系列均可使用新技術;作為緊湊紅外線溫度計CellaTemp PK 25,與可調焦光學器件和瞄準裝置CellaTemp PA 28和作為便攜式高溫計CellaPort PT 128的測量時間以毫秒為單位快速移動的測量儀器,例如在線圈的涂布系統或簡稱為感應加熱過程應用,是理想精度高溫計。

 

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